Release date:2012-11-14 Of views:7385
2012第十屆(上海)汽車電子論壇暨新能源汽車電子開發(fā)與測試高峰論壇召開
蘇州國芯聚焦新能源汽車動力與安全
10月30日,由中國電子器材總公司主辦的2012第十屆(上海)汽車電子論壇暨新能源汽車電子開發(fā)與測試高峰論壇于上海隆重召開。蘇州國芯作為參會嘉賓,與眾多與會者共同探討了在當(dāng)前環(huán)境下汽車電子行業(yè)的機(jī)遇與挑戰(zhàn),并展示了蘇州國芯的C*Core SOC設(shè)計平臺,以及完善的IP配套和開發(fā)調(diào)試環(huán)境。
隨著汽車產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,使用者在節(jié)能、安全以及便利舒適等要求提升的驅(qū)使下,使得車輛電動化、設(shè)備電子化的程度日益提高,與傳統(tǒng)汽車相比,電動汽車將多使用13%~40%的IC和元器件。在這么復(fù)雜的車用環(huán)境下,測試與驗證已經(jīng)成為非常重要的環(huán)節(jié),因為一旦有部分環(huán)節(jié)檢測不合格,整個分析與設(shè)計的程序就必須重頭再來。蘇州國芯提供C*Core SOC設(shè)計平臺,為汽車電子的設(shè)計到封裝測試提供了一整套解決方案:
在工藝選擇方面,采用符合零缺陷控制要求和汽車電子標(biāo)準(zhǔn)的eFlash工藝;
在IP選擇方面,采用高可靠性要求的I/O單元、ESD結(jié)構(gòu)和ADC;
在內(nèi)存方面,采用符合汽車電子標(biāo)準(zhǔn)的eFlash工藝;并采用ECC校驗;
芯片可測性設(shè)計方面,采用多種先進(jìn)的可測性設(shè)計技術(shù),保證99%以上的故障覆蓋率;
在封裝方面,采用符合芯片要求溫度范圍、抗振動和高可靠性的封裝;
參照AEC-Q100汽車電子標(biāo)準(zhǔn)與有相關(guān)測試資質(zhì)的第三方共同建立芯片相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)測試的流程,按標(biāo)準(zhǔn)要求分批次抽取規(guī)定數(shù)量樣片遞交第三方,按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的具體規(guī)范,進(jìn)行測試考核與篩選。
詳細(xì)信息,請詢 support@china-core.com
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